English
| APHA-kód | P11705 |
| Szerzők | Molnár J., Fenyvesi A., Dajkó G., Végh J., Kerek A., Novák D. |
| Cím | Radiation tolerance tests of components for the FERMI microchip module. |
| Megjelenés helye | Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms 143 (1998) 536 |
| Impakt faktor | 1.093 |
| Megnézem | DOI Hivatkozások (1) |
