APHA-kód | P24615 |
Szerzők | Lovics R.,  Csik A.,  Takáts V.,  Hakl J.,  Vad K.,  Langer G. A. |
Cím | Depth profile analysis of solar cells by Secondary Neutral Mass Spectrometry using conducting mesh. |
Megjelenés helye | Vacuum 86 (2012) 721 |
Impakt faktor | 1.530 |
Megnézem | Hivatkozások (3) |