English
| APHA-kód | P13790 |
| Szerzők | Kövér L., Tougaard S., Tóth J., Daróczi L., Szabó I. A., Langer G. A., Menyhárd M. |
| Cím | Determination of overlayer thickness by QUASES analysis of photon-excited KLL Auger spectra of Ni and Cu films. |
| Megjelenés helye | Surface and Interface Analysis 31 (2001) 271 |
| Impakt faktor | 0.987 |
| Megnézem | DOI Hivatkozások (14) |
