A pásztázó elektronmikroszkóp (SEM - Scanning Electron Microscope) képalkotási elve, hogy a minta felületét nem egyidőben, hanem pontról-pontra haladva folyamatosan képezi le egy nagyon kis térrészre fókuszált elektronnyalábbal. Az elektronok kölcsönhatásba lépnek a minta anyagával, az így keletkező különféle jeleket detektálva információt kapunk a minta topográfiájáról és összetételéről.

Az Örökségtudományi Laboratórium Jeol pásztázó elektronmikroszkópja alkalmas képalkotásra szekunder elektron, visszaszórt elektron, valamint katódlumineszcens detektorral, Raman-detektorral, továbbá elemösszetétel megállapítására EDS detektorral. A hagyományos SEM készülékekkel ellentétben, ahol csak vezető felületű mintákat lehet vizsgálni, ez a bendezés alkalmas szigetelő minták vizsgálatára előzetesen a felszínre felvitt arany- vagy szénréteg nélkül is az alacsony vákuum módnak köszönhetően. Régészeti mintáknál az elemösszetétel, illetve elemeloszlás meghatározásán túl fontos információt adhat a felület megmunkálását illetően is.